Samsung avaldas Galaxy Note7 plahvatusohtlike akudega seotud probleemide põhjused

 (29)

Samsung avaldas Galaxy Note7 plahvatusohtlike akudega seotud probleemide põhjused
Samsung Galaxy Note7 akuSamsung Electronics

Samsung Electronics teatas täna Lõuna-Koreas toimunud pressikonverentsil, et Galaxy Note7 telefonide akudega seotud probleemid olid kaht laadi ning edaspidiste sarnaste intsidentide ennetamiseks võetakse uute seadmete tootmisel kasutusele senisest veelgi tõhusamad kontrollmeetmed.

Samsungi ning sõltumatute ekspertorganisatsioonide UL, Exponent ja TUV Rheinland poolt läbi viidud uurimine kinnitas, et Galaxy Note7 ülekuumenemise põhjuseks olid akuprobleemid. Telefonide esimese tagasi kutsumise põhjuseks olid vigased akud, mille Jelly-Rolli ülemises paremas nurgas olnud defekt põhjustas elektroodi paindumise ning nõrgestas elektroode eraldavat separaatorit, luues omakorda mitu võimalust lühiseks. Telefonide teise tagasikutsumise põhjustasid akud, mille negatiivselt elektroodilt leiti sulanud vaske, mis tähendab toimunud lühist.

“See juhtum on nii meile kui kogu tööstusele motivaator parandada liitiumioonakude ohutust ning me jagame oma kogemusi kõigiga, et kaasa aidata akude veelgi ohutumaks muutmisele,” ütles Samsung Electronics Baltics'i mobiilsete seademete juht Maris Kikans.

Lõuna-Korea pealinnas Seoulis toimunud pressikonverentsil teatas Samsung, et võtab endale vastutuse ebaõnnestumises täielikult tuvastada akude disainist ja tootmisest tulenevaid probleeme enne Note7 lansseerimist. Et tulevikus oleks akude müügieelne kontroll veelgi tõhusam, käivitas Samsung 8 punktist koosneva akude ohutuse kontrolliprogrammi, mis hõlmab ohutus- ja kvaliteedikontrolli kõikides tootmistegevustes alates osade ladustamisest kuni tootmise ja täielikult kokkupandud seadmete transpordini.

Loe veel

Seotud lood:

Note7 probleemide tuvastamiseks käivitatud uurimine hõlmas nii riistvara kui ka tarkvara igakülgset testimist, samuti seadmete kokkupaneku, erinevate tootmisprotsesside ja -etappide ning logistika uurimist. Analüüside läbi viimise jaoks ehitas Samsung eraldi uurimiskeskuse, kus ligikaudu 700 Samsungi teadlast ja inseneri kutsusid intsidenti taas esile, testides enam kui 200 000 täielikult kokkupandud seadet ning rohkem kui 30 000 akut.

“8-Punktiline Akude Ohutuse Kontroll”

Samsung tugevdas ohutuse ja kvaliteedi tagamise protsesse 8-punktilise akude ohutuse kontrollimissüsteemi kaudu:

• Vastupidavuskatse – rõhukatsed ekstreemtemperatuuridel ning ülelaadimisega, akude torkekatsed ja muud vastupidavuskatsed
• Visuaalne kontroll – akude visuaalne võrdlemine standardiseeritud näidistega
• Läbivalgustuskatsed – akude läbivalgustamine, et tuvastada kõikvõimalikke probleeme, nagu elektroodide painded, mis osutus üheks Note7 intsidendi põhjuseks
• Demonteerimiskatse – aku demonteerimine, et viia läbi üldise kvaliteedi detailne kontroll, mis hõlmab muuhulgas akuklemmide ja isolatsiooniteibi konditsiooni uurimist
• TVOC Katse – Tajumistestide läbiviimine, et tuvastada väikseimgi lekkevõimalus aku elementide ja kogu seadme tasemetel
• ΔOCV Katse – Aku seisukorra kontrollimine pinge muutuse kaudu tavatemperatuuril
• Laadimis- ja tühjendamiskatse – Uute mahukate laadimis- ja tühjendamiskatsete rakendamine kõikidele seadmetele, mille Samsung lisas Note7 juhtumi uurimise käigus
• Kiirendatud kasutajatest –2-nädalase päriskasutaja kasutusstsenaariumide läbitegemine viiepäevase testperioodi jooksul

Jäta kommentaar
või kommenteeri anonüümselt
Postitades kommentaari nõustud reeglitega
Loe kommentaare Loe kommentaare

FORTE TOP

Viimased uudised