Poleks arvanud, et sellisel asjal võib olla kestvaid tagajärgi, aga nüüd väidavad teadlased, et sel ajal emaüsas sündimist ootanud lapsed kannavad jälgi suurest elektrikatkestusest edasi oma geneetilises mälus. Peamine ülekandja oli emade stress.

Viis kuud pärast jäätormi kogusid McGilli ülikooli teadlased emadelt andmeid, kui suured olid nende üleelamised elektrikatkestuse ajal, lisaks küsitlemisele tehti ka psühholoogilisi teste. 13 aastat hiljem kutsuti testidele aga 36 sel ajal veel lootestaadiumis olnud ja seejärel päevavalgust näinud last.

Selgitati nende DNA metülatsiooni ulatust, ehk keemilisi protsesse, mis lisavad DNA nukleotiididele metüüligruppe. Varem on teada et sellele võib hoogu anda ka raseduse ajal söödud toit või kogetud stress, nüüd siis selgus ka elektrikatkestuse mõju loote DNA-le, vahendas ajakiri PLOS ONE.