PPMS süsteemi (Physical Property Measurement System, Quantum Design) integreeritav muudetava temperatuuri (2–400 K) ja muudetava väljatugevusega (-14 kuni 14 T) kõrgresolutsiooni AFM-MFM seade on unikaalne ja tõhus tööriist materjaliteaduse probleemide uurimisel. Seade on konstrueeritud Šveitsi teadlaste rühma poolt Baseli Ülikooli ja EMPA juures (prof H.-J. Hug) ja valmistatud väikefirmas Nanoscan.

Mikroskoop pakub maailmas ainsana MFM lahutust 15 nm. Skaneerimispiirkonnad (x-y-z suunas) on 12×12x2 mikronit madalal temperatuuril ja 40×40x5 mikronit toatemperatuuril; uuritava objekti suurim diameeter on 12 mm.

Aatom- ja magnetjõu mikroskoop võimaldab uurida funktsionaalseid kile- ja kristallmaterjale laias temperatuuri- ja magnetväljavahemikus ning leiab rakendust uute materjalide ja prototüüpide arendamisel ülijuhtivuse ja spintroonika aladel. Uus aparatuur tugevdab instituudi olemasolevaid ülijuhtivuse, kvantmagnetite ja multiferroikute alaseid uurimisprogramme ning aitab kaasa uute aatomkiht-sadestatud (ALD) kilematerjalide projektide ellukutsumisele koostöös Tartu Ülikooli ja Helsingi Ülikooli teadlastega. Tehnikat saab edukalt rakendada ka nanotehnoloogia baasuuringutes.

Aparatuuri soetamist toetas Eesti-Šveitsi koostööprogramm. Lisaks aparatuuri soetamisele viidi koostööprogrammi projekti raames läbi ka aatom- ja magnetjõu mikroskoopia koolitused Eesti materjaliteaduste valdkonna noorteadlastele nii Šveitsis EMPA laboratooriumites kui Eestis, KBFIs.